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Elaboration et caractérisation physique des couches minces de TiO2 déposées par pulvérisation cathodique

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par Ihsen BEN MBAREK
Ecole Nationale d'Ingénieurs de Tunis - Mastère en Génie des Systèmes Industriels 2009
  

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Chapitre 1 : Matériau TiO2

1.6 Conclusion

Le dioxyde de titane (TiO2) se présente sous différentes formes cristallines : l'anatase, le rutile et la brookite, le bronze (TiO2-B), le columbite (TiO2-II, srilankite ou bien TiO2 type ?-PbO2), le hollandite (TiO2-H), le ramsdellite (TiO2-R) et le baddeleyite (TiO2-III), dont les plus courantes sont l'anatase, le rutile et la brookite (très rare). Ce composé est un semi-conducteur de type n en raison de son déficit en oxygène qui résulte de l'existence de lacunes anioniques ou de la présence d'atomes de titane en sites interstitiels, sa conductivité dépend de sa non stoechiométrie : plus il est déficitaire en oxygène, plus il est conducteur. Sa conductivité est très faible, mais celle-ci augmente avec le dopage par des cations : Mg2+, Nb5+, Ta5+.

L'étude bibliographique relative au dioxyde de titane, au niveau structural comme au niveau de ses propriétés, montre qu'il présente un caractère fortement anisotrope. Ceci nous permettra de comprendre le comportement de ce matériau face à un chauffage de substrat ou en fonction de nature de substrat et d'analyser ainsi les résultats qui seront obtenus.

Une diversité d'applications reflète l'importance du matériau. A cause du grand potentiel de TiO2 dans les applications et du manque d'une compréhension de base de ce matériel, la recherche sur ce matériel est la plupart du temps topique. Les applications sont essentiellement concentrées sur les couches minces de TiO2. Les propriétés morphologiques et structurales, et par suite les propriétés physiques, des couches minces dépondent du processus de fabrication.

ENIT 2009 18

Techniques de dépôt : Pulvérisation

cathodique

2.1 Introduction 20

2.2 Dépôt chimique en phase vapeur (CVD : Chemical Vapor Deposition) 22

2.3 Evaporation thermique 24

2.4 Ablation laser (Pulsed Laser Deposition- PLD) 26

2.5 Epitaxie par jets moléculaires 27

2.6 Pulvérisation cathodique 27

2.6.1 Principe de la pulvérisation 28

2.6.2 Pulvérisation DC (Direct Current) 32

2.6.3 Pulvérisation RF (Radio-fréquence) 34

2.6.4 Pulvérisation triode 35

2.6.5 Pulvérisation réactif 36

2.6.6 Croissance cristalline 37

2.7 Conclusion 39

ENIT 2009 19

Chapitre 2 : Téchniques de dépôt : La pulvérisation cathodique

2.1 Introduction

Par principe une couche mince d'un matériau donné est un élément de ce matériau dont l'une des dimensions, qu'on appelle l'épaisseur, a été fortement réduite de telle sorte qu'elle s'exprime en nanomètres et que cette faible distance entre les deux surfaces limites (cette quasi bidimensionnalité) entraîne une perturbation de la majorité des propriétés physiques [e].

La différence essentielle entre le matériau à l'état massif et à l'état de couches minces est en effet liée au fait que dans l'état massif on néglige généralement avec raison le rôle des limites dans les propriétés, tandis que dans une couche mince ce sont au contraire les effets liés aux surfaces limites qui sont prépondérants. Il est assez évident que plus l'épaisseur sera faible et plus cet effet de bidimensionnalité sera exacerbé, et qu'inversement lorsque l'épaisseur d'une couche mince dépassera un certain seuil l'effet d'épaisseur deviendra minime et le matériau retrouvera les propriétés bien connues du matériau massif.

La seconde caractéristique essentielle d'une couche mince est que, quelle que soit la procédure employée pour sa fabrication, une couche mince est toujours solidaire d'un support sur lequel elle est construite (même si, après coup, il arrive parfois que l'on sépare la couche mince dudit support). En conséquence il sera impératif de tenir compte de ce fait majeur dans la conception, à savoir que le support influence très fortement les propriétés structurales de la couche qui y est déposée. Ainsi une couche mince d'un même matériau, de même épaisseur pourra avoir des propriétés physiques sensiblement différentes selon qu'elle sera déposée sur un substrat isolant amorphe tel le verre, ou un substrat monocristallin de silicium par exemple.

Les principales méthodologies de fabrication utilisées par les fabricants de composants électroniques actifs ou passifs font appel à des procédures physiques de dépôt du matériau sur un substrat initialement dépourvu de dépôt. La couche mince va donc croître en épaisseur à partir de zéro. Il est à noter que bien que l'on dispose de procédés de décapage permettant d'araser angström par angström un matériau, on n'utilise pratiquement jamais ce moyen pour obtenir une couche mince d'épaisseur donnée.

Dans ce chapitre nous décrivons d'abord diverses méthodes utilisées pour la fabrication de couches minces sous vide. Nous présentons essentiellement les méthodes de PVD. Nous décrivons ensuite plus particulièrement le principe de la pulvérisation cathodique en soulignant ses avantages. La première partie présente un panorama non exhaustif des différentes techniques de dépôt existantes les plus courantes. Celles-ci peuvent être classées en deux catégories :

ENIT 2009 20

ENIT 2009 21

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