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Elaboration et caractérisation physique des couches minces de TiO2 déposées par pulvérisation cathodique

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par Ihsen BEN MBAREK
Ecole Nationale d'Ingénieurs de Tunis - Mastère en Génie des Systèmes Industriels 2009
  

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Chapitre 2 : Téchniques de dépôt : La pulvérisation cathodique

Dans ce cas, le matériau à déposer (la cible) est placé, sous vide, dans un creuset et chauffé jusqu'à évaporation. ). Les atomes de la vapeur vont alors se déposer sur un substrat placé en regard du creuset. Le processus se fait sous un vide secondaire. On peut ajouter un gaz réactif qui réagit avec la vapeur et change la composition chimique du dépôt. La vitesse de dépôt dépend de la température de la source, de la distance entre le creuset et le substrat mais aussi du coefficient de collage des espèces évaporées sur le substrat. Elle varie classiquement de 1 nanomètre par minute à 10 micromètres par minute [90].

Les procédés de chauffe sont multiples : résistif à l'aide d'un filament réfractaire, bombardement électronique à l'aide d'un faisceau d'électrons intense et énergétique, typiquement 5 à 10 KeV, induction ou par un faisceau laser. Le premier sert à l'évaporation de matériau facile à fondre et le deuxième sert à l'évaporation de matériaux réfractaires.

Cependant, certains problèmes spécifiques à l'évaporation existent : il est difficile de déposer des matériaux très réfractaires ou à faible tension de vapeur. Cette méthode ne permet pas de maîtriser facilement la composition chimique dans le cas d'un alliage par suite d'un effet de distillation du composant le plus volatil.

Les couches peuvent être aussi contaminées par réaction avec le creuset, avec le filament et surtout par le dégazage des parois induit par l'échauffement ou le bombardement des électrons.

Dans le cas de l'évaporation par faisceau d'électrons, les rayons X mous émis peuvent être à l'origine de défauts cristallins [92]. L'évaporation reste toutefois une méthode particulièrement appréciée car elle conduit à l'élaboration de matériaux très purs et d'autant plus purs que la pression pendant le dépôt est faible.

La pression dans les systèmes d'évaporation classiques demeure le plus souvent inférieure à 10-6 torr pendant le dépôt et elle est particulièrement basse dans les systèmes d'épitaxie par jets moléculaires (EJT, ou "MBE") [90, 92]. Cependant elle ne convient pas à la fabrication de couches hors d'équilibre thermodynamique pour lesquelles nous devons faire appel à une méthode utilisant un bombardement ionique. Cependant, cette méthode simple à mettre en oeuvre et permettant de grandes vitesses de dépôt, n'offre généralement pas aux couches, une très bonne adhérence et il existe des problèmes de stoechiométrie pour les matériaux déposés à partir de source multiélément. Le problème réside dans la faible énergie des atomes évaporés lors de leur condensation sur le substrat [93].

Pour augmenter cette énergie et ainsi améliorer la qualité du dépôt, des techniques d'évaporation thermique assistée par faisceau d'ions (Ion Beam Assisted Deposition) ont été mises

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