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à‰tude structurale et évolution de la texture d'un acier doux.

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par mohamed amine mechitoua
constantine 1 - master en proprietés structurales des matériaux 2014
  

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Chapitre III : Matériau et techniques expérimentales

cristallites dans la normale hi au plan (hkl) est parallèle à une direction y du repère de l'échantillon selon l'équation (III.2).

dV 1

= P (y)

V 4 ð hi (III.3)

La méthode utilisée pour mesurer les textures cristallographiques est celle de Schulz [2]. Le principe est d'envoyer des RX contenu dans le plan horizontal vers le centre commun de rotations du goniomètre (Fig.III.4). Le détecteur des photons X est placé dans ce même plan horizontal et il fait un angle 2O, par rapport au faisceau incident. La valeur de l'angle O est liée à la distance des plans réticulaires, sur lesquels on mène l'expérience de diffraction, par la relation de Bragg (Eq. III.1).

Pendant les mouvements du goniomètre, une intensité proportionnelle à la densité des pôles (hkl) est collectée dans la direction y.

Les rotations nécessaires pour ramener tous les plans en position de diffraction sont deux : une rotation autour la normale de l'échantillon ( (l'angle d'azimut) et une rotation de déclinaison x (l'angle polaire). Cette déclinaison est généralement limitée à 80° car le faisceau diffracté s'élargit et le compteur ne peut pas collecter qu'une partie de l'intensité (défocalisation).

Le compteur détecte une intensité Ihi (y) (nombre de coups par unité de temps) proportionnelle à la densité de pôles Phi(y), à chaque position (x, p). Les intensités diffractées correspondant aux pôles (hkl) peuvent être représentées, par des lignes d'isointensité, sur la sphère des pôles ou sur le cercle équatorial, par la projection stéréographique. Le calcul de la fonction de la distribution des orientations cristallines à partir de l'intensité diffractée requiert la correction des données brutes, entachées d'erreurs [3]. Parmi les sources d'erreurs il y a la défocalisation et le bruit de fond :

- La défocalisation : La défocalisation est la conséquence de l'élargissement de la surface irradiée sur l'échantillon lorsqu'on fait une inclinaison en x. Elle conduit à un élargissement des pics de diffraction [4] (Fig. III.3). Ce phénomène ne permet pas d'exploiter directement la périphérie des figures de pôles, car les intensités diffractées caractérisant cette région sont très fortement atténuées. On obtient alors, sur les figures de pôles une zone dite `aveugle` [5], qui débute typiquement vers x=60°. la zone

Chapitre III : Matériau et techniques expérimentales

aveugle est la zone de détection qui ne peut être vue par le détecteur. Elle est due à la géométrie instrumentale et concerne les petits angles.

 

Fig. III. 3 : Représentation d'un échantillon pour deux positions de x différentes.

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- Bruit de fond : est le freinage des électrons, de différentes vitesses, après ses interactions avec la cible. Il en résulte une émission radiative qui constitue un rayonnement de freinage ou fond continu.

La densité de pôles est proportionnelle à l'intensité corrigée des effets de défocalisation et de bruit de fond par le coefficient de normalisation Ni :

Phi(y)=NiIhi(y) (III.4)

Après le calcul des figures des pôles, il y a la détermination de la fonction de distribution des orientations f(g) par la méthode de Harmonique, avec un développement en séries jusqu'à l'ordre 34 généralement et un calcul des parties paires et impaires. La fonction f(g) nécessite la solution de l'équation fondamentale :

P h (y) = ? f(g)dg (III.5)

i h i//y

Avec (hi//y) qui indique que l'intégrale est calculé pour tous les cristallites dont les normales <hi> aux plan {hkl} sont parallèles à une direction <y> dans le repère de l'échantillon [6].

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